显微熔点仪 型号:SGW X-4库号：D159240
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用玻片-盖玻片法（热台法）测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围：室温至320℃
*.测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
*.光学放大倍数：目镜10X；物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用玻片-盖玻片法（热台法）测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围：室温至320℃
*.测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
*.光学放大倍数：目镜10X；物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用玻片-盖玻片法（热台法）测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围：室温至320℃
*.测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
*.光学放大倍数：目镜10X；物境4X
*.温度显示小示值:1℃
*.熔点观察方式:单目显微镜
【应用范围】
测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用玻片-盖玻片法（热台法）测定。
【性能指标】
*.熔点测量范围：室温至320℃
*.测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
*.光学放大倍数：目镜10X；物境4X
*.温度显示小示值:1℃
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*.熔点观察方式:单目显微镜
TEL:13311026698
24H服务电话：
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