型号 752
带宽 4nm
波长范围 200～1000nm（步进间隔0.1nm）
波长准度（≤） ±2.0nm（开机自动校准）
波长重现性（≤） 1nm
测定范围 0.0～125.0%T -0.097～2.70A
浓度0～1999
透射比准度（≤） ±0.5%T
透射比重复性（≤） 0.2%T
杂散光（≤） 0.5%T（在220、360nm处l）
基线直线性（≤） /
稳定性/基线漂移（≤） ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200～1000nm（步进间隔0.1nm）
波长准度（≤） ±2.0nm（开机自动校准）
波长重现性（≤） 1nm
测定范围 0.0～125.0%T -0.097～2.70A
浓度0～1999
透射比准度（≤） ±0.5%T
透射比重复性（≤） 0.2%T
杂散光（≤） 0.5%T（在220、360nm处l）
基线直线性（≤） /
稳定性/基线漂移（≤） ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200～1000nm（步进间隔0.1nm）
波长准度（≤） ±2.0nm（开机自动校准）
波长重现性（≤） 1nm
测定范围 0.0～125.0%T -0.097～2.70A
浓度0～1999
透射比准度（≤） ±0.5%T
透射比重复性（≤） 0.2%T
杂散光（≤） 0.5%T（在220、360nm处l）
基线直线性（≤） /
稳定性/基线漂移（≤） ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200～1000nm（步进间隔0.1nm）
波长准度（≤） ±2.0nm（开机自动校准）
波长重现性（≤） 1nm
测定范围 0.0～125.0%T -0.097～2.70A
浓度0～1999
透射比准度（≤） ±0.5%T
透射比重复性（≤） 0.2%T
杂散光（≤） 0.5%T（在220、360nm处l）
基线直线性（≤） /
稳定性/基线漂移（≤） ±0.003A/h
型号 752
带宽 4nm
波长范围 200～1000nm（步进间隔0.1nm）
波长准度（≤） ±2.0nm（开机自动校准）
波长重现性（≤） 1nm
测定范围 0.0～125.0%T -0.097～2.70A
浓度0～1999
透射比准度（≤） ±0.5%T
透射比重复性（≤） 0.2%T
杂散光（≤） 0.5%T（在220、360nm处l）
基线直线性（≤） /
稳定性/基线漂移（≤） ±0.003A/h紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728紫外可见分光光度计 型号752 库号M312728
TEL:13311026698
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